本規(guī)范適用于直角坐標(biāo)系中的圖像測量儀器。引用了幾何測量設(shè)備校準(zhǔn)和圖像測量儀器驗(yàn)收監(jiān)測和復(fù)檢監(jiān)測中的不確定度評(píng)估指南。

需要熟悉涉及的更重要的參數(shù)。

1、測量投影儀在平面上的尺寸測量誤差（Exy）：測量誤差表示將產(chǎn)品或樣品以任意方向放置在圖像測量平面上，測量二維尺寸的示值誤差。

2、測量投影儀在Z軸上的尺寸測量誤差（Ez）：測量誤差表示在垂直于圖像測量平面的單軸方向上測量的示值誤差。

3、測量投影儀測量頭尺寸測量誤差（Ev）：在不移動(dòng)平臺(tái)的情況下，圖像視場內(nèi)任意尺寸平面的測量誤差。

4、測量投影儀測量的各截面測量結(jié)果的一致性（Ec）：影像測量儀在光軸的不同截面上測量時(shí)，各截面坐標(biāo)原點(diǎn)與XY的投影的一致性平面可以理解為圖像測量儀沿Z方向上下移動(dòng)時(shí)，Z軸與XY水平面的垂直度也可以反映測量頭在不同高度的圖像測量特性的一致性。

5、測量投影儀二維檢測誤差（P2D）：使用影像測量儀測量標(biāo)準(zhǔn)圓的半徑。

6、測量投影儀探頭的檢測誤差（PV）：使用影像測量儀測量視場內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)圓的半徑。

7、測量投影儀的變倍檢測誤差（Pz）：使用影像測量儀測量標(biāo)準(zhǔn)圓心坐標(biāo)在不同倍率下的變化范圍。

近年來，光學(xué)影像測量儀器廣泛應(yīng)用于制造業(yè)，與人們的生活息息相關(guān)。行業(yè)也呈現(xiàn)出快速擴(kuò)張的趨勢。我國的發(fā)光圖像測量儀器行業(yè)市場也在不斷加速并購。生產(chǎn)的產(chǎn)品數(shù)量多，增長明顯；部分中低端產(chǎn)品產(chǎn)能過剩，而高端產(chǎn)品品種少、缺貨多，與國外產(chǎn)品性能差距較大。