圖2顯示了當(dāng)探頭的采樣方向垂直于探頭體（垂直于主軸）時(shí)的最佳結(jié)果。如果可能的話，采樣方向應(yīng)該垂直于探頭體。如果探頭平行于探頭的桿身軸線），結(jié)果的可重復(fù)性比垂直于軸線的重現(xiàn)性差;如果探針的方向既不垂直也不平行于探針體平行于探針體時(shí)，結(jié)果的再現(xiàn)性較差;探針采樣方向平行于主軸軸線，但與探頭體成一定角度，不會(huì)重復(fù)，應(yīng)盡可能避免。

避免極點(diǎn)碰撞

如果三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量桿在測(cè)量過(guò)程中與測(cè)量桿接觸，但與測(cè)量桿沒(méi)有接觸，則測(cè)量系統(tǒng)會(huì)認(rèn)為測(cè)量桿被取樣，從而導(dǎo)致較大的誤差。此時(shí)，增加主軸直徑將增加球/柱空間，從而減少極柱碰撞的可能性，如圖3所示。有效工作長(zhǎng)度是桿在桿接觸特征之前可達(dá)到的深度。通常，球越大，有效工作長(zhǎng)度越大。使用較大的主軸也可以降低被測(cè)元件的表面粗糙度;然而，可以使用的最大的球體受到測(cè)量的最小的孔的限制。
此外，探頭是一個(gè)精密的測(cè)量?jī)x器，應(yīng)保持清潔和無(wú)憂，保持形狀和大小。棒狀紅寶石觸點(diǎn)應(yīng)保持無(wú)污物，1μm的灰塵可能導(dǎo)致1μm的測(cè)量誤差。

測(cè)針校準(zhǔn)

當(dāng)使用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)量時(shí)，由于測(cè)頭半徑的影響，獲取的坐標(biāo)數(shù)據(jù)不是測(cè)頭觸摸的表面坐標(biāo)，而是測(cè)頭的球心坐標(biāo)。當(dāng)表面法線和測(cè)量值相同時(shí)，測(cè)頭坐標(biāo)與測(cè)頭中心的測(cè)頭半徑值不同。如果忽略探頭半徑，即沒(méi)有半徑補(bǔ)償?shù)臏y(cè)量數(shù)據(jù)，則會(huì)帶來(lái)數(shù)據(jù)補(bǔ)償錯(cuò)誤。因此，在測(cè)試工件之前，要校準(zhǔn)的主軸需要校準(zhǔn)。實(shí)際的接觸點(diǎn)和軟件記錄的位置需要沿著測(cè)量點(diǎn)矢量方向補(bǔ)償探針的半徑。
因此，測(cè)量時(shí)應(yīng)盡可能使測(cè)針軸垂直于被測(cè)表面，使測(cè)頭沿被測(cè)表面法線方向移動(dòng)，以盡量減小球半徑補(bǔ)償誤差，

通過(guò)驗(yàn)證，需要消除以下三個(gè)方面的問(wèn)題：
（1）理論三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量桿半徑與實(shí)際測(cè)量桿半徑之間的誤差;
（2）理論測(cè)量棒長(zhǎng)度與實(shí)際測(cè)量棒長(zhǎng)度之間的誤差;
（3）探頭旋轉(zhuǎn)角度誤差。
通過(guò)檢查以消除上述三個(gè)錯(cuò)誤，得到正確的補(bǔ)償值。所以校準(zhǔn)結(jié)果的準(zhǔn)確性，直接影響到工件的測(cè)試結(jié)果。