原理
1.標(biāo)準(zhǔn)裝置：采用高精度光柵系統(tǒng)作為反饋X軸距標(biāo)準(zhǔn)裝置;
2.測量原理：利用頭架的測量力，接觸被測球體（測量平面物體 - 如測量塊，校驗桿，千分尺，卡片表等）接觸待測平面。測長儀五軸工作臺的水平移動使得尾座的球體能夠測量到被測設(shè)備的另一個平面;測量兩個球形帽的頂點之間的距離;使用頭架的力測量并使用平面測量帽的平面（測量的圓周的外徑，量規(guī)，針規(guī)和桿）與要測量的平面接觸，五軸工作臺的水平軸線浮動使尾帽球體與被測表面的另一平面接觸;從而測出兩個測試帽之間的距離;用力測量和測量平面測量帽的接觸，使三針螺紋量規(guī)凹槽直徑段接觸點得到平面測量帽之間的距離，并加上三針直徑，使用三針計算單螺紋的方法螺紋中段截面直徑分別采用T形球和螺紋環(huán)規(guī)的內(nèi)螺紋槽的直徑截面點求得，螺紋的單根直徑由三針法;
3.測長儀數(shù)據(jù)校正：通過力量校正系統(tǒng)和溫度校正系統(tǒng)對X軸光柵反饋數(shù)據(jù)進(jìn)行校正，得到正確的X軸標(biāo)準(zhǔn)長度值;
4.軟件標(biāo)準(zhǔn)和數(shù)據(jù)計算：軟件系統(tǒng)內(nèi)置多個標(biāo)準(zhǔn)，并計算所需的數(shù)據(jù)（如螺紋的單個直徑，測量塊的標(biāo)準(zhǔn)長度，光標(biāo)的真實值等）。 ，通過相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)計算